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  • 德國業(yè)納軸類光學測量機 在線測量系統(tǒng)的特點優(yōu)勢

    德國業(yè)納軸類光學測量機 在線測量系統(tǒng)的特點優(yōu)勢

    時間:2021-10-18 瀏覽量:1228

    德國業(yè)納軸類光學測量儀-在線測量系統(tǒng),Opticline 系列光學測量系統(tǒng):適用于自動化應用,Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光學測量系統(tǒng)可滿足極高的自動化要求。

  • 關節(jié)臂三坐標測量機與常規(guī)三坐標檢測的區(qū)別有哪些?

    關節(jié)臂三坐標測量機與常規(guī)三坐標檢測的區(qū)別有哪些?

    時間:2021-10-18 瀏覽量:1375

    關節(jié)臂三坐標測量機是一款通用性強的檢測設備。廣泛應用于較大尺寸工件的尺寸檢測、測量、逆向工程、現場調試等應用領域。三坐標測量儀廣泛應用于汽車零部件行業(yè)

  • 激光三維掃描儀的工作方式講解

    激光三維掃描儀的工作方式講解

    時間:2021-10-18 瀏覽量:1094

    思看3D掃描儀有很多不同的種類,也有很多不同的名稱,例如激光三維掃描儀、手持式三維掃描儀等等,所有這些設備的共同之處在于,它們可以通過數十萬或數百萬物理對象捕獲幾何測量。

  • 德國業(yè)納軸類光學測量機Opticline系統(tǒng) 特點介紹

    德國業(yè)納軸類光學測量機Opticline系統(tǒng) 特點介紹

    時間:2021-10-14 瀏覽量:1050

    Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光學測量系統(tǒng)可滿足極高的自動化要求,它們以重復精度提供工件的精密測量數據。業(yè)納專為自動化應用環(huán)境設計了 Opticline CA、AMV 和 WMS 系列軸類光學測量機

  • Jenoptik業(yè)納l軸類光學機OpticlineC1214參數特點

    Jenoptik業(yè)納l軸類光學機OpticlineC1214參數特點

    時間:2021-10-14 瀏覽量:1208

    德國業(yè)納Jenoptik集團軸類件光學測量系統(tǒng)Opticline 系統(tǒng)提供多項智能自動監(jiān)測功能,以便持續(xù)執(zhí)行質量。此外,這些系統(tǒng)在質量參數的可追溯性和記錄方面樹立了新標準。

  • 霍梅爾 HOMMEL粗糙度儀 Hommel-Etamic W20參數特點

    霍梅爾 HOMMEL粗糙度儀 Hommel-Etamic W20參數特點

    時間:2021-10-14 瀏覽量:1015

    德國霍梅爾Hommel-Etamic W20粗糙度儀無導頭型探測系統(tǒng)專為執(zhí)行移動式粗糙度測量而設計。它不僅測量所有常見的粗糙度參數,而且評估工件表面的波度和總輪廓

  • 關節(jié)臂三坐標測量機的特點優(yōu)勢及優(yōu)劣勢分析

    關節(jié)臂三坐標測量機的特點優(yōu)勢及優(yōu)劣勢分析

    時間:2021-10-14 瀏覽量:2358

    在檢測空間一固定點時關節(jié)臂測量機與三坐標測量機完全不同,在測頭確定情況下直角坐標測量機各軸的位置X,Y,Z 對固定空間點是確定并唯一的;關節(jié)臂測量機有各種各樣的方法使用各臂對測頭測量一個固定空間點

  • 業(yè)納Jenoptik 軸類光學測量機的優(yōu)點及應用領域

    業(yè)納Jenoptik 軸類光學測量機的優(yōu)點及應用領域

    時間:2021-10-12 瀏覽量:1196

    業(yè)納Jenoptik 已開發(fā)出新一代的光學測量系統(tǒng),使生產過程中的質量控制更加容易。多年來,Opticline 系列測量系統(tǒng)在光學軸測量技術上樹立了標桿

  • 霍梅爾Hommel Etamic W20表面粗糙度波紋度和輪廓儀

    霍梅爾Hommel Etamic W20表面粗糙度波紋度和輪廓儀

    時間:2021-10-12 瀏覽量:1235

    Hommel-Etamic W20 表面粗糙度測量儀測量探頭會自動定位在工件表面上。機動化的探頭降低功能可簡化操作 - 您只需定位掃描單元,然后開始測量。在完成測量時,探臂會自動從工件抬起

  • 關節(jié)臂三坐標測量機的發(fā)展趨勢分析

    關節(jié)臂三坐標測量機的發(fā)展趨勢分析

    時間:2021-10-12 瀏覽量:1011

    關節(jié)式三坐標測量機按理論來說,可以測量任何工件的任何幾何元素的任何參數。不過在實際的應用中,受技術、環(huán)境、軟件、硬件等一系列的因素的影響,往往與理論存在一定的差距

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